Artykuł przedstawia wybrane przykłady rozwiązań do testowania anten, zrealizowanych z wykorzystaniem aparatury pomiarowej i testowej Ceyear. Przedstawione przypadki pokazują, w jaki sposób produkty Ceyear mogą być integrowane w kompletne systemy pomiarowe anten, umożliwiające spełnienie wymagających wymagań testowych w szerokim zakresie częstotliwości i zastosowań.

Opisane rozwiązania obejmują różne metody testowania anten, w tym pomiary w polu bliskim i dalekim, testowanie i kalibrację anten z szykiem fazowanym, charakteryzację anten na strukturach półprzewodnikowych (on-wafer), pomiary w zakresie fal milimetrowych i terahercowych, a także pomiary skutecznej powierzchni odbicia radarowego (RCS).

Przedstawione przykłady zastosowań ilustrują możliwości aparatury Ceyear w rzeczywistych środowiskach pomiarowych oraz pokazują praktyczne sposoby wykorzystania rozwiązań opartych na urządzeniach Ceyear do wspomagania projektowania, charakteryzacji, kalibracji, weryfikacji oraz testów produkcyjnych anten.

System do pomiarów anten średnich i dużych w polu bliskim

Na rysunku 1 przedstawiono dwuosiowy system pomiarowy pola bliskiego z podwójną osią Y, opracowany przez naszą firmę dla jednego z instytutów badawczych sektora lotniczo-kosmicznego. System jest przeznaczony do pomiarów anten z większą aperturą i zapewnia wysoką dokładność pomiarową.

Rysunek 1. Widok dwuosiowego systemu pomiarowego pola bliskiego do anten z szykiem fazowanym

 

Parametry techniczne systemu:

  • Zakres częstotliwości: 0,8–40 GHz
  • Zakres skanowania skanera z podwójną osią Y: 12 m × 5 m
  • Osie skanera: 7 osi (X, Y1, Y2, Z1, Z2, P1, P2)
  • Płaskość: 0,1 mm (RMS)
  • Dokładność pomiaru listków bocznych na poziomie −30 dB: ±1,5 dB

System do pomiarów anten w polu bliskim i dalekim

Na rysunku 2 przedstawiono system do pomiarów anten w polu bliskim i dalekim, przeznaczony przede wszystkim do realizacji pomiarów w płaskim polu bliskim oraz w polu dalekim. System pracuje w zakresie częstotliwości od 18 GHz do 170 GHz.

Wymiary komory pomiarowej wynoszą 13 m × 6 m × 4 m, zakres skanowania skanera wynosi 3 m × 2,5 m, natomiast maksymalna odległość pomiarowa w polu dalekim wynosi 9 m.

Opisane systemy mogą być wykorzystywane do prowadzenia badań naukowych, działalności dydaktycznej oraz świadczenia zewnętrznych usług w zakresie pomiarów i testowania anten.

Rysunek 2. System do pomiarów anten w polu bliskim i dalekim w zakresie 18 GHz–170 GHz

 

System platformy pomiarowej typu rectangular range

Na rysunku 3 przedstawiono system platformy pomiarowej typu rectangular range, opracowany przez naszą firmę dla jednej z uczelni. Wysokowydajna platforma pomiarowa umożliwia szybkie skanowanie danych amplitudowych i fazowych w polu bliskim i dalekim oraz wyznaczanie wielowymiarowych charakterystyk promieniowania. Pozwala to na zwiększenie ogólnych możliwości pomiarowych komory mikrofalowej.

Rysunek 3. Platforma pomiarowa typu rectangular range

 

Główne parametry techniczne systemu:

  • Zakres częstotliwości: 1–75 GHz
  • Niepewność pomiaru zysku: <±0,35 dB
  • Dokładność pomiaru listków bocznych: <0,5 dB przy poziomie −20 dB; <1,0 dB przy poziomie −30 dB
  • Maksymalne wymiary badanego obiektu: 1 m × 1 m
  • Wymiary komory: 10 m × 5 m × 3,55 m
  • Skuteczność ekranowania komory: <90 dB
  • Poziom odbić w strefie ciszy komory: <−35 dB w zakresie 1–8 GHz; <−40 dB w zakresie 8–75 GHz

System do pomiarów anten w polu bliskim i dalekim

Na rysunku 4 przedstawiono system do pomiarów anten w polu bliskim i dalekim, zbudowany przez naszą firmę dla jednego z klientów.

System charakteryzuje się wysoką dokładnością pomiarową, dużymi możliwościami w zakresie pomiarów anten o dużej aperturze i wysokim zysku oraz niewielkimi wymaganiami dotyczącymi miejsca instalacji. W szczególności pojedynczy pomiar pozwala uzyskać holograficzną informację o rozkładzie pola anteny, co pozwala projektantom anten zaoszczędzić czas i nakład pracy, znacząco zwiększając efektywność oraz skracając cykl projektowania.

System zapewnia szybkie i dokładne narzędzie wspomagające opracowywanie nowych anten, a także oferuje duży potencjał zastosowania w innych obszarach.

Rysunek 4. System do pomiarów anten w polu bliskim i dalekim

 

Główne parametry techniczne systemu:

  • Zakres częstotliwości: 3–40 GHz
  • Niepewność pomiaru zysku: <±0,25 dB, powtarzalność ±0,05 dB (3–40 GHz); <±0,6 dB, powtarzalność ±0,15 dB (40–90 GHz)
  • Dokładność pomiaru listków bocznych: <±1 dB przy poziomie −20 dB, <±2 dB przy poziomie −30 dB, <±2,5 dB przy poziomie −40 dB (3–40 GHz); <±1,5 dB przy poziomie −20 dB, <±2,5 dB przy poziomie −30 dB, <±3,5 dB przy poziomie −40 dB (40–90 GHz)
  • Dokładność pomiaru skanowania wiązki: dla szerokości wiązki <10° i zakresu odchylenia <45° — błąd kierunku skanowania wiązki ±0,2°; dla szerokości wiązki <10° i zakresu odchylenia 45°–60° — błąd kierunku skanowania wiązki ±0,5°
  • Dokładność pomiaru szerokości wiązki: <5% szerokości wiązki dla BW >2°; <0,05° dla BW <2°
  • Dokładność pomiaru polaryzacji krzyżowej: <±1 dB przy poziomie −20 dB, <±2 dB przy poziomie −30 dB, <±2,5 dB przy poziomie −40 dB (3–40 GHz); <±1,5 dB przy poziomie −20 dB, <±2,5 dB przy poziomie −30 dB, <±3,5 dB przy poziomie −40 dB (40–90 GHz)

System do pomiaru zgodności amplitudowo-fazowej anten szykowych

Na rysunku 5 przedstawiono schemat systemu do pomiaru zgodności amplitudowo-fazowej anten szykowych oferowanego przez naszą firmę, natomiast na rysunku 6 pokazano interfejs oprogramowania pomiarowego tego systemu.

System wykorzystuje metodę badania zgodności kanałów anteny szykowej opartą na ekstrapolacji pola bliskiego. Na podstawie skanowania pola bliskiego dla pełnej wiązki system wyznacza rozkład pola dalekiego, a następnie automatycznie przeprowadza inteligentną normalizację danych dla wielu kanałów. Umożliwia to łatwe porównywanie zgodności amplitudy i fazy pomiędzy poszczególnymi kanałami.

Rozwiązanie zapewnia szybki i dokładny sposób kalibracji zgodności amplitudowo-fazowej anten szykowych na podstawie pomiarów w polu bliskim.

Rysunek 5. Schemat systemu do pomiaru zgodności amplitudowo-fazowej anten szykowych

Rysunek 6. Interfejs oprogramowania do pomiaru zgodności amplitudowo-fazowej anten szykowych

 

Na rysunku 7 przedstawiono system komory pomiarowej do kalibracji anten z szykiem fazowanym oraz pomiarów w polu bliskim, dostarczony dla jednego z instytutów badawczych. System wykorzystuje kompaktową konstrukcję komory oraz technologię pomiarów w płaskim polu bliskim, umożliwiając automatyczną kalibrację anten z szykiem fazowanym.

Na podstawie zeskanowanych danych amplitudowych i fazowych system może generować odpowiednie dane kompensacyjne amplitudy i fazy, które mogą być bezpośrednio wykorzystane do kalibracji powierzchni apertury badanej anteny.

Na podstawie uzyskanych danych amplitudowych i fazowych system umożliwia również wyznaczenie rozkładu pola w aperturze anteny szykowej, trójwymiarowych charakterystyk promieniowania w polu dalekim, dwuwymiarowych charakterystyk promieniowania w płaszczyznach E i H oraz innych wymaganych danych pomiarowych.

Rysunek 7. System komory pomiarowej do kalibracji anten z szykiem fazowanym oraz pomiarów w polu bliskim

 

Na rysunku 8 przedstawiono system komory pomiarowej do testowania anten szykowych, dostarczony dla zakładu produkcyjnego przemysłu obronnego. System pracuje w zakresie częstotliwości 75–110 GHz i umożliwia pomiary anten o wymiarach do 300 mm.

System jest przeznaczony przede wszystkim do pomiaru charakterystyk promieniowania anten szykowych metodą płaskiego pola bliskiego.

Rysunek 8. Komora pomiarowa do testowania anten szykowych

 

System platformy do pomiaru charakterystyk elektromagnetycznych

Na rysunku 9 przedstawiono system platformy do pomiaru charakterystyk elektromagnetycznych, zbudowany przez naszą firmę dla jednej z uczelni. Wymiary komory (długość × szerokość × wysokość) wynoszą 10 m × 7 m × 7 m. System umożliwia wykonywanie pomiarów anten w polu dalekim w zakresie częstotliwości od 0,5 GHz do 110 GHz.

Rysunek 9. Platforma do pomiaru charakterystyk elektromagnetycznych

 

Główne parametry techniczne systemu:

  • Zakres częstotliwości: 0,5–110 GHz
  • Możliwość analizy parametrów charakterystyki promieniowania anteny, takich jak: szerokość wiązki, położenie i poziom listka głównego, położenie i poziom listków bocznych, kierunek wiązki, współczynnik osiowy polaryzacji kołowej itp.
  • Maksymalna moc wyjściowa portu: +5 dBm
  • Błąd pomiaru zysku: ±0,35 dB

System diagnostyczny charakterystyk pola promieniowanego

Na rysunku 10 przedstawiono system diagnostyczny charakterystyk pola promieniowanego, zbudowany przez naszą firmę dla jednej z uczelni. System charakteryzuje się wysoką dokładnością pomiarową, dużymi możliwościami w zakresie pomiarów anten o dużej aperturze i wysokim zysku oraz elastycznością pod względem miejsca instalacji.

Rozwiązanie umożliwia uczelniom prowadzenie wydajnych i precyzyjnych pomiarów oraz pogłębionej analizy w ramach działalności naukowo-badawczej i dydaktycznej, m.in. w zakresie badań parametrów anten oraz opracowywania nowych konstrukcji antenowych.

Rysunek 10. Platforma do pomiaru charakterystyk elektromagnetycznych

 

Główne parametry techniczne systemu:

  • Zakres częstotliwości: 1–110 GHz
  • Efektywny zakres skanowania: 3 m × 4 m × 0,25 m
  • Błąd pomiaru zysku: <±0,35 dB
  • Wymiary komory mikrofalowej: 7,0 m × 5,0 m × 7,0 m
  • Skuteczność ekranowania: >100 dB w zakresie 1–18 GHz; >80 dB przy 40 GHz

System do pomiarów anten w polu bliskim i dalekim oraz system do pomiarów anten na strukturach półprzewodnikowych (on-wafer)

Na rysunku 11 przedstawiono dwa wysokiej klasy systemy do pomiarów anten, opracowane przez naszą firmę na indywidualne zamówienie jednej z uczelni: system do pomiarów anten w polu bliskim i dalekim oraz system do pomiarów anten na strukturach półprzewodnikowych (on-wafer).

System do pomiarów anten w polu bliskim i dalekim obejmuje zakres częstotliwości roboczych od 18 GHz do 220 GHz, natomiast system do pomiarów anten on-wafer pracuje w zakresie od 2 GHz do 220 GHz.

Oba systemy zostały pomyślnie zainstalowane i oficjalnie uruchomione, a także udostępnione do świadczenia usług pomiarowych. Zapewniają one zaawansowane zaplecze techniczne wspierające działalność badawczo-innowacyjną oraz rozwój naukowy uczelni.

Rysunek 11. System do pomiarów anten w polu bliskim i dalekim oraz system do pomiarów anten na strukturach półprzewodnikowych (on-wafer)

 

Główne parametry techniczne systemu do pomiarów anten w polu bliskim i dalekim:

  • Zakres częstotliwości roboczych: 2–220 GHz — pomiary w polu dalekim; 8,2–220 GHz — pomiary w polu bliskim
  • Dokładność pomiaru maksymalnego zysku: <±0,35 dB — pole dalekie (bez uwzględnienia niepewności zysku anteny wzorcowej); <±0,5 dB — pole bliskie (bez uwzględnienia niepewności zysku anteny wzorcowej)
  • Dokładność pomiaru poziomu listków bocznych: <±0,5 dB przy poziomie −10 dB — pole bliskie, zysk >15 dBi; <±1,5 dB przy poziomie −20 dB — pole bliskie, zysk >15 dBi; <±0,5 dB przy poziomie −10 dB — pole dalekie; <±1,2 dB przy poziomie −20 dB — pole dalekie
  • Dokładność pomiaru szerokości wiązki: <±5% dla BW >10° — pole bliskie; <±8% dla 2° < BW <10° — pole bliskie; <±5% dla BW >10° — pole dalekie; <±8% dla 2° < BW <10° — pole dalekie

Główne parametry techniczne systemu do pomiarów anten na strukturach półprzewodnikowych (on-wafer):

  • Zakres częstotliwości roboczych: 18–220 GHz
  • Dokładność pomiaru maksymalnego zysku: 18–110 GHz: <±0,35 dB; 110–220 GHz: <±0,5 dB
  • Dokładność pomiaru poziomu listków bocznych przy −10 dB: <±0,5 dB w zakresie 18–110 GHz; <±0,8 dB w zakresie 110–220 GHz
  • Dokładność pomiaru poziomu listków bocznych przy −20 dB: <±1,3 dB w zakresie 18–110 GHz; <±1,6 dB w zakresie 110–220 GHz

System do pomiarów anten na strukturach półprzewodnikowych (on-wafer)

Na rysunku 12 przedstawiono wysokiej klasy system do pomiarów anten na strukturach półprzewodnikowych (on-wafer), opracowany przez naszą firmę dla jednej z uczelni. System umożliwia wykonywanie pomiarów w zakresie częstotliwości od 50 GHz do 325 GHz.

System został zaprojektowany specjalnie do pomiarów mikroanten z niestandardowym sposobem zasilania. Dzięki zastosowaniu technologii zasilania za pomocą sond pomiarowych, wspomaganej obrazowaniem z mikroskopu elektronowego, umożliwia precyzyjną charakteryzację właściwości elektromagnetycznych anten o wymiarach mikrometrowych.

Rozwiązanie zapewnia uczelniom niezawodną platformę pomiarową oraz zaplecze techniczne wspierające prace badawczo-rozwojowe nad antenami on-wafer i ich zastosowania przemysłowe.

Rysunek 12. System do pomiarów anten na strukturach półprzewodnikowych (on-wafer)

 

Główne parametry techniczne systemu:

  • Zakres częstotliwości roboczych: 50–325 GHz
  • Błąd pomiaru zysku (bez uwzględnienia niepewności zysku anteny wzorcowej): 50–110 GHz: <±0,8 dB; 110–325 GHz: <±1,0 dB
  • Dokładność pomiaru poziomu listków bocznych: 50–110 GHz, listek boczny na poziomie −10 dB: <±1,0 dB; 110–325 GHz, listek boczny na poziomie −10 dB: <±1,3 dB; 50–110 GHz, listek boczny na poziomie −20 dB: <±1,5 dB; 110–325 GHz, listek boczny na poziomie −20 dB: <±1,8 dB

System do pomiarów anten w polu bliskim i dalekim

Na rysunku 13 przedstawiono wysokoprecyzyjny system do pomiarów anten w polu bliskim i dalekim, opracowany przez naszą firmę na indywidualne zamówienie jednej z uczelni. System charakteryzuje się doskonałymi możliwościami pomiarów szerokopasmowych i obejmuje zakres częstotliwości roboczych od 1,72 GHz do 110 GHz.

Opracowanie i wdrożenie tego systemu zapewniło zaawansowaną platformę pomiarową do testowania anten pracujących w zakresie fal milimetrowych, stanowiąc istotne zaplecze techniczne dla prowadzonych przez uczelnię zaawansowanych badań w dziedzinie komunikacji bezprzewodowej, detekcji radarowej oraz innych obszarach.

Rysunek 13. System do pomiarów anten w polu bliskim i dalekim

 

Główne parametry techniczne systemu:

  • Zakres częstotliwości roboczych: 2 GHz < f < 110 GHz — pomiary w polu dalekim; 8,2 GHz < f < 110 GHz — pomiary w polu bliskim
  • Dokładność pomiaru zysku (pole dalekie): <±0,35 dB
  • Dokładność pomiaru listków bocznych (pole dalekie): <±0,5 dB dla listków bocznych na poziomie −10 dB; <±1,2 dB dla listków bocznych na poziomie −30 dB
  • Dokładność pomiaru szerokości wiązki (pole dalekie): <±5% dla BW >10°; <±8% dla 2° < BW <10°
  • Dokładność pomiaru zysku (pole bliskie): <±0,5 dB
  • Dokładność pomiaru listków bocznych (pole bliskie): <±0,5 dB dla listków bocznych na poziomie −20 dB przy zysku >15 dBi; <±1,5 dB przy zysku >15 dBi
  • Dokładność pomiaru szerokości wiązki (pole bliskie): <±5% dla BW >10°; <±8% dla 2° < BW <10°

System pomiarowy XX sieci quasi-optycznej

Na rysunku 14 przedstawiono system pomiarowy XX sieci quasi-optycznej, opracowany przez naszą firmę specjalnie dla jednego z instytutów. System wykorzystuje innowacyjną metodę pomiaru anten w polu bliskim i jest przeznaczony przede wszystkim do analizy efektów osiowania i regulacji elementów quasi-optycznych oraz dostarczania wskazówek dotyczących procesu ich montażu i regulacji.

System charakteryzuje się ultraszerokopasmowymi możliwościami pomiarowymi w zakresie 23–425 GHz oraz wysoką dokładnością wykrywania odchyleń od prawidłowego osiowania. Zapewnia niezawodną metodę pomiarową wspierającą precyzyjny montaż urządzeń quasi-optycznych.

Rozwiązanie skutecznie eliminuje problemy pomiarowe występujące podczas osiowania i regulacji quasi-optycznych elementów pracujących w zakresie fal milimetrowych i terahercowych, znacząco zwiększając dokładność i efektywność procesu montażu.

Rysunek 14. System pomiarowy XX sieci quasi-optycznej

 

Mikrofalowy system pomiarowy anten

Na rysunku 15 przedstawiono wysokiej klasy zintegrowany mikrofalowy system pomiarowy anten, opracowany przez naszą firmę na indywidualne zamówienie jednej z uczelni. System składa się z podsystemu do pomiarów anten w polu bliskim i dalekim oraz podsystemu do pomiarów anten na strukturach półprzewodnikowych (on-wafer), a jego łączny zakres częstotliwości obejmuje pasmo od 600 MHz do 500 GHz.

Zakres pomiarów w polu dalekim wynosi 600 MHz–110 GHz, zakres pomiarów w polu bliskim 2,6–110 GHz, natomiast zakres pomiarów anten on-wafer w polu dalekim wynosi 18–500 GHz.

System umożliwia pomiary anten aktywnych i pasywnych, urządzeń końcowych oraz rozwiązań AiP (Antenna-in-Package), zapewniając kompleksowe możliwości pomiarowe w zakresie fal milimetrowych i terahercowych na potrzeby zajęć laboratoryjnych, badań naukowych oraz realizacji innowacyjnych projektów.

Uruchomienie systemu znacząco zwiększyło możliwości uczelni w zakresie prowadzenia pomiarów i prac eksperymentalnych, zapewniając istotne zaplecze sprzętowe dla rozwoju dyscyplin w ramach chińskiej inicjatywy „Double First-Class” oraz kształcenia kadr zgodnie z koncepcją „masowej przedsiębiorczości i innowacyjności”.

Uczelnia prowadzi obecnie działania mające na celu uzyskanie akredytacji CNAS dla tego stanowiska pomiarowego, co pozwoli na dalsze podniesienie poziomu standaryzacji laboratorium oraz wiarygodności uzyskiwanych wyników pomiarów.

Rysunek 15. Mikrofalowy system pomiarowy anten

 

Terahercowy system pomiarowy z rozszerzeniem zakresu częstotliwości

Na rysunku 16 przedstawiono terahercowy system pomiarowy z rozszerzeniem zakresu częstotliwości, opracowany przez naszą firmę na indywidualne zamówienie jednej z uczelni. System umożliwia wykonywanie pomiarów w zakresie częstotliwości od 40 GHz do 220 GHz.

Opracowanie tego systemu zapewniło kluczowe narzędzie pomiarowe wspierające badania nad technologiami komunikacji terahercowej, analizę właściwości elektromagnetycznych nowych materiałów oraz rozwój systemów radarowych pracujących w zakresie fal milimetrowych.

System został dotychczas z powodzeniem wykorzystany w wielu projektach badawczych realizowanych na szczeblu krajowym. Jego bardzo dobre parametry techniczne oraz stabilność pomiarów zostały wysoko ocenione przez uczelnię. System stanowi istotne zaplecze techniczne wspierające rozwój dyscyplin naukowych oraz działalność badawczo-innowacyjną uczelni.

Rysunek 16. Terahercowy system pomiarowy z rozszerzeniem zakresu częstotliwości

 

Precyzyjny system do pomiarów anten zintegrowanych w układach scalonych w polu bliskim w zakresie fal milimetrowych

Na rysunku 17 przedstawiono precyzyjny system do pomiarów w polu bliskim anten zintegrowanych w układach scalonych, pracujących w zakresie fal milimetrowych, opracowany przez naszą firmę specjalnie dla jednej z uczelni.

System został zaprojektowany z myślą o szczególnych wymaganiach związanych z pomiarami miniaturowych anten o niestandardowym sposobie zasilania. Zastosowano w nim innowacyjną technologię zasilania za pomocą sond pomiarowych, wspomaganą obrazowaniem z mikroskopu elektronowego. Rozwiązanie to umożliwia precyzyjny pomiar trójwymiarowych charakterystyk promieniowania anten o bardzo małych wymiarach przy maksymalnej częstotliwości pomiarowej sięgającej 325 GHz.

Do głównych parametrów i możliwości technicznych systemu należą:

  • ultraszerokopasmowy zakres częstotliwości: 26,5–325 GHz;
  • precyzyjne zasilanie za pomocą sondy pomiarowej, z pozycjonowaniem w czasie rzeczywistym wspomaganym obrazowaniem z mikroskopu elektronowego;
  • możliwość pomiaru kluczowych parametrów, takich jak dookólna charakterystyka promieniowania, charakterystyka zysku oraz współczynnik fali stojącej (VSWR);
  • wysokoprecyzyjny, dwuosiowy, napędzany elektrycznie stolik obrotowy z osiami azymutu i elewacji.

System pozwala przezwyciężyć ograniczenia techniczne tradycyjnych metod pomiaru anten, zapewniając zaawansowane narzędzie do badania charakterystyk anten stosowanych w mikrofalowych i milimetrowych układach scalonych oraz układach typu SoC (System-on-Chip). Stanowi tym samym istotne wsparcie dla prac badawczo-rozwojowych nad technologiami antenowymi przeznaczonymi do pracy w wysokich zakresach częstotliwości.

Rysunek 17. Precyzyjny system do pomiarów anten zintegrowanych w układach scalonych w polu bliskim w zakresie fal milimetrowych

 

System kalibracyjno-pomiarowy płaskiego pola bliskiego

Na rysunku 18 przedstawiono system pomiarowy dużych anten z aktywnym szykiem fazowanym, zaprojektowany i zbudowany przez naszą firmę dla instytutu badawczego przemysłu zbrojeniowego. System obejmuje zakres częstotliwości roboczych od 0,7 GHz do 40 GHz.

System umożliwia kalibrację elementów aktywnych anten z szykiem fazowanym z wykorzystaniem pomiarów w płaskim polu bliskim, cylindrycznym polu bliskim oraz polu dalekim. Obsługuje również pomiary charakterystyk promieniowania dla wielu położeń wiązki, a także pomiary skutecznej powierzchni odbicia radarowego (RCS).

Dzięki zastosowaniu metody wzajemnego wyzwalania impulsowego system umożliwia jednoczesną, wieloczęstotliwościową kalibrację elementów anten z szykiem fazowanym dla wielu wiązek, jak również wieloczęstotliwościowe pomiary charakterystyk promieniowania dla wielu wiązek i wielu ich położeń.

Pozwala to na szybkie sprawdzanie parametrów, takich jak kierunek wiązki, zysk anteny i poziom listków bocznych, oraz na weryfikację właściwości promieniowania anteny. Rozwiązanie znacząco zwiększa efektywność testowania anten z szykiem fazowanym oraz zapewnia odpowiednie zaplecze pomiarowe dla ich badań seryjnych i odbioru przed dostawą.

Rysunek 18. System kalibracyjno-pomiarowy płaskiego pola bliskiego

 

Główne parametry techniczne systemu:

  • Zakres częstotliwości pomiarowych: 0,7–40 GHz
  • Dokładność pomiaru zysku: <±0,6 dB w zakresie 0,7–1 GHz; <±0,4 dB w zakresie 1–18 GHz; <±0,3 dB w zakresie 18–40 GHz
  • Dokładność pomiaru poziomu listków bocznych: <±0,4 dB przy poziomie −10 dB; <±0,7 dB przy poziomie −15 dB; <±0,9 dB przy poziomie −20 dB
  • Dokładność pomiaru RCS: <±0,9 dB przy poziomie −20 dBsm
  • Dokładność wyznaczania odległości obrazowania: <±9 cm

System do pomiarów anten w płaskim polu bliskim

Na rysunku 19 przedstawiono system do pomiarów małych anten z szykiem fazowanym w płaskim polu bliskim, zbudowany przez naszą firmę dla przedsiębiorstwa z branży telekomunikacyjnej. System pracuje w zakresie częstotliwości od 8 GHz do 40 GHz i wykorzystuje metodę kalibracji z przełączaniem elementów o podwójnej polaryzacji.

Dzięki zastosowaniu metody wzajemnego wyzwalania impulsowego system umożliwia wydajne, wieloczęstotliwościowe pomiary charakterystyk promieniowania dla wielu położeń wiązki i wielu wiązek.

System został z powodzeniem wdrożony do seryjnych testów produkcyjnych anten z szykiem fazowanym przeznaczonych do łączności satelitarnej. Rozwiązanie stanowi istotne wsparcie dla przyspieszenia rozwoju zdolności operacyjnych chińskiej konstelacji internetu satelitarnego, zabezpieczenia zasobów orbitalnych na niskiej orbicie okołoziemskiej (LEO) oraz budowy krajowej szkieletowej infrastruktury informacyjnej.

Rysunek 19. System do pomiarów anten w płaskim polu bliskim

 

Bistatyczny system pomiarowy RCS

Na rysunku 20 przedstawiono bistatyczny system pomiarowy RCS, opracowany na indywidualne zamówienie dla jednego z klientów. Platforma pomiarowa umożliwia precyzyjną i kompleksową charakteryzację skutecznej powierzchni odbicia radarowego (RCS) różnego rodzaju obiektów, zapewniając pomiary kluczowych parametrów, takich jak monostatyczny i bistatyczny RCS, charakterystyki rozpraszania oraz odpowiedź częstotliwościowa.

System jest wyposażony w profesjonalną komorę mikrofalową oraz kluczowe podzespoły, w tym wysokiej klasy anteny nadawcze i odbiorcze, precyzyjny stolik obrotowy badanego obiektu oraz jednostkę przetwarzania sygnałów.

Rozwiązanie w pełni spełnia wymagania dotyczące wysokiej dokładności pomiarów charakterystyk rozpraszania obiektów w złożonych środowiskach elektromagnetycznych.

Rysunek 20. Bistatyczny system pomiarowy RCS

 

System kompaktowego pola pomiarowego do pomiarów RCS i anten

Na rysunku 21 przedstawiono system kompaktowego pola pomiarowego do pomiarów RCS i anten, opracowany przez naszą firmę na indywidualne zamówienie jednej z uczelni. System obejmuje zakres częstotliwości roboczych od 8 GHz do 110 GHz.

Platforma wykorzystuje zaawansowaną technologię kompaktowego pola pomiarowego (compact range), umożliwiając precyzyjny pomiar sferycznych charakterystyk anten o polaryzacji liniowej i kołowej w polu dalekim, a także skutecznej powierzchni odbicia radarowego (RCS) badanych obiektów. System umożliwia kompleksowe pomiary kluczowych parametrów, takich jak zysk, amplitudowe i fazowe charakterystyki promieniowania, współczynnik osiowy, szerokość wiązki oraz kierunek wiązki.

System jest wyposażony w profesjonalną komorę typu compact range. Do jego kluczowych elementów należą komora mikrofalowa, wysokiej klasy układ zasilający wraz z reflektorem, precyzyjny stolik obrotowy badanego obiektu oraz szyna łukowa.

Rozwiązanie w pełni spełnia rygorystyczne wymagania dotyczące różnego rodzaju pomiarów anten metodą compact range oraz precyzyjnych pomiarów RCS.

Rysunek 21 System kompaktowego pola pomiarowego do pomiarów RCS i anten

 

Gdzie kupić

🔵 Systemy do testowania anten są już dostępne na zamówienie w firmie SEA Components GmbH, oficjalnym partnerze Ceyear w Unii Europejskiej. W sprawie zapytań handlowych i ofert cenowych prosimy o kontakt pod adresem: tm@sea-ceyear.com